GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线 测试方法
作者:标准资料网
时间:2024-04-28 04:32:15
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基本信息
| 标准名称： | 微波介质基片复介电常数带状线 测试方法 |
| 英文名称： | Stripline test method for complex permittivity of microwave dielectric substrates |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子元器件与信息技术综合 >> 基础标准与通用方法 |
| ICS分类： | 电气工程 >> 绝缘流体 >> 绝缘气体 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1990-01-02 |
| 实施日期： | 1991-10-01 |
| 首发日期： | 1990-12-28 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 信息产业部（电子） |
| 起草单位： | 电子科技大学 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：12， 字数：20000 |
适用范围
本标准规定了微波介质基片复介电常数的带状线测试方法。本标准适用于测试各种基片（如塑料、复合材料、陶瓷、硅酸盐和其他单晶体材料等）在微波频率下的复介电常数。
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元器件与信息技术综合 基础标准与通用方法 电气工程 绝缘流体 绝缘气体
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